X射线光电子能谱仪 - 苏州分测科技有限公司

项目简介

X射线光电子能谱技术（X-ray photoelectron spectroscopy，简称XPS）是一种表面分析方法，使用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来，被光子激发出来的电子称为光电子，可以测量光电子的能量和数量，从而获得待测物组成。ESCALAB QXi XPS微探针是一种可扩展和优化的多技术仪器，具有无与伦比的灵活性和可配置性，可在几秒钟内产生高质量的光谱。

特点：

应用：

（1）电池研究

（2）金属研究

（3）聚合物研究

（4）地质研究

（5）石油和天然气

（6）纳米粒

（7）法医学

（8）催化研究

（9）纤维和过滤器

（10）2D材料

（11）汽车材料测试

结果展示

定性分析：

半定量分析：

价态分析：

检测案例：

样品要求

1、样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品；

2、粉末样品：20-30mg；

3、块状、薄膜样品：块体/薄膜样品尺寸小于5*5*3mm，需标记好测试面；

4、液体样品：需制好样干燥后再测试，最好自己掌握浓度制样，如果需要我们制样，需要保证一定浓度，否则会影响测试结果。

5、特殊需求：样品含S、F、I、Br等元素单质，如果容易挥发则不能测试，具体联系测样老师；XPS是高真空环境测试的，所以要求样品要充分干燥，易吸湿样品请提前说明；样品含有放射性元素请提前说明；

6、样品包装要求：样品制备好以后，尽可能进行真空密封，减少样品吸附空气中的污染物，对于某些元素的测试，会有影响。

7、XPS测试需要样品用导电胶固定在样品台上，所以测过的粉末样品没法回收，块体样品回收可能也受到污染或者破坏，建议尽量不回收样品。

常见问题

1、样品精细谱扫出谱峰？为什么全谱里没有呢？: 全谱主要是用来定性分析的，设置参数的步长比较大，含量低的在全谱里扫不出谱峰。但是精细谱扫出谱峰就表示有该元素。

2、每种元素的检测限一样么？: 不一样。每种元素的主峰的灵敏度因子都不一样。

3、数据中C、N、O元素含量比实际样品的高，或没有C、N、O但是测出来了？: （1）样品吸附了空气中的污染物导致，在数据处理时，把非样品所含有的污染物的峰先分出来，剔除掉，再重新计算含量；（2）如果对这个要求较严，建议后期样品制备后抽真空密封保存，测试时选择手套箱制样并测试；如果是非粉体样品，可选择刻蚀后测试。

4、样品不含有这个元素，为什么全谱测出这个元素了（除CNO）？: （1）样品理论上应该不含有，但是样品在处理过程中是有引入该元素的成分，在后续的处理过程没有完全处理干净；（2）待测试样品是在某种基底上测试的，但待测试样品量较少，测试到了基底；（3）被同一批次的其他样品，或者有易挥发组分（如S、F），或者进行刻蚀后，污染了该样品表面。

5、某元素含量很高大概 5%，测出来信噪比很差，而有的元素含量很低0.5%，测出来信噪比反而很好？: （1）不同元素的主峰的灵敏度因子和检测限不一样；（2）样品分布不均匀；（3）该元素不分布在样品表面，即不在XPS所测微区范围内。

6、样品中，某元素窄谱曲线不光滑，峰刺较多，或没有测出该元素？: （1）元素含量比较低；（2）样品分布不均匀，所测试的光斑范围内，该元素含量较少；（3）该元素不分布在样品表面，即不在XPS所测微区范围内。

7、分峰后，某元素结合能位置不对？: （1）确认下数据是否校正（我们给的数据，一般是没有校正的数据）；（2）分析下化学环境对该元素峰本身造成的影响，某些化学环境会导致峰有正常的偏移；（3）确认下分峰是否正确。

8、元素的结合能测试范围和之前的不同，无法对比？: 如果该元素的峰是完整的，可以自行截取至相同结合能范围进行对比，如果不影响分析也可以不进行截取。

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