仪器型号Bruker D8 ADVANCE
基于独一无二的D8衍射仪系列平台的D8 ADVANCE，是所有X射线粉末衍射和散射应用的理想之选。仅使用D8 ADVANCE，就可对所有类型的样品进行测量：从液体到粉末、从薄膜到固体块状物。配置仪器时，免工具、免准直，同时还受到自动化的实时组件识别与验证的支持。
主要功能：
1. TWIN / TWIN 光路
2. 动态光束优化（DBO）
3. LYNXEYE XE-T
应用：
1. 粉末衍射
2. 对分布函数分析
3. 薄膜和涂层
市场概况：
(1)金属行业
(2)薄膜计量
(3)建筑材料
(4)药物行业
(5)化工制品/颜料
(6)储能/电池
规格：
| 功能 | 规格 | 优势 |
| TRI0 光路和TWIN光路 |
软件按钮切换: 马达驱动发散狭缝(BB几何) 高强度Ka1,2平行光束 高分辨率Ka1平行光束 专利:US10429326、US6665372、US7983389 |
可在多达6种不同的光束几何之间进行全自动化电动切换，无需人工干预 是所有类型的样品分析的理想之选，包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜(非晶、多晶和外延) |
| 动态光束优化 |
动态同步: 马达驱动发散狭缝 马达驱动防散射屏 可变探测器窗口 20角度范围:小于1度至>大于150度 |
数据几乎不受空气、仪器和样品架散射的影响 大大提高了检测下限，可定量分析少量晶相和非晶相 在较小的20角度，具有无与伦比的性能，可对粘土、药物、沸石、多孔材料及其他材料进行精确研究 |
| LYNXEYE XE-T |
能量分辨率:< 380 eV @8KeV 检测模式:0D、1D、2D 波长:Cr、Co、Cu、Mo和Ag 专利:EP1647840、EP1510811、US20200033275 |
无需KB滤波片和二级单色器 铜辐射即可100%过滤铁荧光 速度比传统探测器系统快450倍 BRAGG 2D模式:使用发散的初级线束收集2D数据 独一无二的探测器保证:交货时绝无坏道 |
| EIGER2 R | Dectris 公司开发的基于混合光子计数技术的新一代探测器,支持多种模式(0D/1D/2D) |
在步进扫描、连续扫描和高级扫描模式中无缝集成0D、1D和2D检测 符合人体工程学的免对准探测器旋转功能，可优化或20角度范围 使用完整的探测器视野、免工具全景衍射光束光学系统 连续可变的探测器位置，以平衡角度范围和分辨率 |
| 旋转光管 | 在线焦斑和点焦斑应用之间轻松快捷地进行免对准切换 |
无需断开电缆或水管，无需拆卸管道 DAVINCI设计:全自动检测和配置聚焦方向 |
| 自动进样器 |
FLIPSTICK:9个样品 AUTOCHANGER:90个样品 |
在反射和透射几何中运行 |
| D8 测角仪 | 带独立步进电机和光学编码器的双圆测角仪 |
布鲁克独有的准直保证，确保了无与伦比的准确性和精确度 绝对免维护的驱动机构/齿轮装置，终身润滑 |
| 非环境条件 |
温度:从~85K到~2500K 压力:10-4mbar至100 bar 湿度:5%至95% |
在环境和非环境条件下进行研究 DIFFRA嶅C设计助您轻松更换样品台 |
1、样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品、液体样品可以涂在载玻片上干燥之后测试（有可能测试到基底，请悉知）；
2、粉末样品：不少于30mg，0.5g以上最好，需要粒度均匀（粒度在45um左右或过200目筛子），手摸无颗粒感，面粉质感；
3、块状、薄膜样品：至少有一面为平整光洁平面；要求长宽1-2cm（一般不小于1cm），厚度不超出15mm，需要标明测试面。
一对一为您答疑解惑
立即扫码咨询
