您的当前位置: 首页 - 测试项目 - XRD -
X射线衍射仪
X射线衍射仪

仪器型号SmartLab   3KW

项目简介

智能X射线衍射仪SmartLab系列,是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance,一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。The SmartLab 高分辨衍射系统是最先进的全自动模块化XRD系统的代表。该系统配备了高分辨θ/θ闭环测角仪驱动系统,选配的in-plane 扫描臂、9kW转靶发生器,全自动光学系统实现先进的测量。
主要特点:
          智能X射线衍射仪SmartLab系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
          可分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
          可分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品
主要应用:
          1. 粉末样品的物相定性与定量分析
          2. 计算结晶化度、晶粒大小
          3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
          4. Rietveld定量分析
          5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度
          6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
          7. 小角散射与纳米材料粒径分布
          8. 微区样品的分析

技术参数:

          1. X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶
          2. 测角仪为水平测角仪
          3. 测角仪最小步进为1/10000度,最高精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位)(理学专利)
          4. 测角仪配程序式可变狭缝
          5. 自动识别所有光学组件、样品台(理学专利)
          6. CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学专利)
          7. 小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)
          8. 多用途薄膜测试组件
          9. 微区测试组件、CBO-F微区光学组件
         10. In-Plane测试组件(理学独有)
         11. 入射端Ka1光学组件
         12. 高速探测器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下)
         13. 二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器,可以接收直射X射线)
         14. 智能的测量分析软件SmartLab Guidance(专利)







结果展示


样品要求

1、样品状态:可为粉末、块状、薄膜样品、液体样品可以涂在载玻片上干燥之后测试(有可能测试到基底,请悉知);

2、粉末样品:不少于30mg,0.5g以上最好,需要粒度均匀(粒度在45um左右或过200目筛子),手摸无颗粒感,面粉质感;

3、块状、薄膜样品:至少有一面为平整光洁平面;要求长宽1-2cm(一般不小于1cm),厚度不超出15mm,需要标明测试面。

常见问题

1、为什么要求XRD测试粉末样品要稍微多一些?
因为粉末样品要铺满整个样品台,不然X射线可能会打在样品台上,影响数据质量。
2、为什么XRD测试要求薄膜(块体)样品尺寸要合适?
因为放置薄膜(块体)样品的样品台尺寸是固定的,用橡皮泥来固定样品,样品太大放不进去,样品台小不好固定。

技术顾问

一对一为您答疑解惑

微信公众号 立即扫码咨询

热门文章

关于我们
新闻中心
全国客户服务热线
18915420003

地址:苏州工业园区星湖街218号生物纳米园A4-109室

邮箱:zhangyi@nano-test.cn

Copyright © 苏州分测科技有限公司 All rights reserved 技术支持:苏州网站建设 苏ICP备2023010044号-1