仪器型号ZETIUM 帕纳科
X 射线荧光是原子内产生变化所致的现象。内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，释放出来，电子的逐放会导致该电子可曾出现相应当电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应当电子空位。由于不同电子壳层之间存在能量差距，这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来，不同元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性—特征波长(定性分析基础)；依据谱线强度与元素含量的比例关系进行定量分析。 X 射线荧光光谱 (XRF) 能够对多种材料进行元素分析，包括固体、液体和疏松粉末。 Zetium 光谱仪专为满足要求严苛的流程控制和研发应用需求而设计，其高品质的设计和功能，可对从铍到镅等多种元素进行精度范围从百万分之一以下到百分之一的分析。
特点：
（1）增强的分析性能
（2）出色的用户体验应用：
用于粉末，块状，粉末压片，熔片，金属非金属样品，空气滤膜等样品元素成分的定性定量分析以及无标样半定量分析，无损分析。
技术参数：
分析范围：O(8)-U(92)
含量范围：PPM-100%
SST-mAX无衰减X光管及固态高压发生器功率：4KW，60KW
160mADOPS直接光学定位测角仪精确率：0.0001°
晶体：LiF200；PX-1；PE002，Ge111；LiF220；
扫描方式：顺序扫描
探测器：流气式：3000Kcps；闪烁式：1500 Kcps
1、样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品；
2、粉末样品：粉末样品需要至少2 g ，最好3 g以上，样品在测试之前尽量干燥，可以过200目筛的样品无需研磨；颗粒过大的样品需要先研磨过筛后进行测试；
3、块状、薄膜样品：块状样品要求表面光滑平整，尺寸在2.5 ~4.5cm之间，标明测试面；
4、含碳元素含量超过10%，需将样品烧成灰再测；
5、样品量过少或粘度低，硬度高可能影响测试结果，如果样品有这些特性需提前沟通。
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